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掃描電鏡是一種用途廣泛的科學研究儀器,是通過電子束來成像的,,其放大倍數(shù)可達幾十萬倍,分辨率可達納米級別,是形貌和成分分析領域極其重要的一種工具。$n掃描電鏡測試項目:$nSEM:形貌觀察,利用背散射電子(BEI)和二次電子(SEI)來成像,可放大倍率5-100萬倍 。$nEDS:成分分析(半定量),通過特征X-RAY獲取樣品表面的成分信息,測量Be及以上元素。
場發(fā)射掃描電鏡測試利用場發(fā)射電子槍產生高能量的電子束,當電子束與樣品相互作用時,會產生二次電子、背散射電子等信號。二次電子主要來自樣品表面淺層,對樣品表面形貌非常敏感,可用于觀察樣品的表面細節(jié);背散射電子則與樣品原子序數(shù)有關,通過分析背散射電子的信號可以了解樣品表面不同區(qū)域的成分差異。
SEM掃描電鏡檢測是一種在材料科學和納米科學領域中廣泛使用的設備,其能力使它成為研究微觀結構和性能的重要工具。
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